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anx_I__table__202

| 3B002 | Équipements de test spécialement conçus pour le test de dispositifs semi-conducteurs finis ou non finis comme suit, et leurs composants et accessoires spécialement conçus: a. pour le test des paramètres S des biens visés à l’alinéa 3A001.b.3.; b. non utilisé; c. pour le test des biens visés à l’alinéa 3A001.b.2.

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Source: EUR-Lex (Cellar) · retrieved 2026-10-27 · Text as adopted (Official Journal); later amendments are not incorporated in this text.